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文章來源 : 粵科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2023-10-17 瀏覽量:
江蘇粵科檢測(cè)是專業(yè)第三方元器件二次篩選機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備GJB128A-1997標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力,可提供晶體管二次篩選、可靠性驗(yàn)證服務(wù)。
元器件篩選分為一次篩選和二次篩選,一次篩選由電子元器件制造廠商在元器件出廠前按照元器件詳細(xì)規(guī)范或國(guó)軍標(biāo)的要求進(jìn)行元器件可靠性篩選。
部分領(lǐng)域用戶對(duì)元器件可靠性要求較高,諸如航空航天等軍工科研用戶單位,這類用戶單位為滿足設(shè)備整機(jī)的高可靠性和高性能要求,會(huì)在一次篩選的基礎(chǔ)上,結(jié)合元器件自身特點(diǎn)和實(shí)際應(yīng)用需求,參照驗(yàn)收流程和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行第二次質(zhì)量和穩(wěn)定性篩選,這一過程稱作二次篩選(也稱作二篩)。
對(duì)于航空航天等軍工科研領(lǐng)域用戶而言,二次篩選是軍用電子元器件質(zhì)量與可靠性管控的重要環(huán)節(jié),是保障航空航天領(lǐng)域高可靠性元器件質(zhì)量和穩(wěn)定性的重要途徑。
1. 雙極型晶體管(開關(guān),小功率、 大功率普通晶體管, 雙晶體管);
2. 雙極型晶體管(射頻,高頻);
3. 結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)(JFET);
4. MOSFET;
5. 達(dá)林頓;
6. 光耦合器。
1. 內(nèi)部目檢;
2. 溫度循環(huán);
3. 恒定加速度;
4. PIND;
5. 編序列號(hào);
6. 初始電參數(shù)測(cè)試;
7. 老煉;
8. 終點(diǎn)電參數(shù)測(cè)試;
9. 計(jì)算變化量;
10. 計(jì)算PDA;
11. 密封試驗(yàn)(細(xì)檢漏、粗檢漏);
12. X 射線照相檢驗(yàn);
13. 外觀檢查。
1. 可靠性檢測(cè)專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專家組成的專家團(tuán)隊(duì)50余人。
2. 配備各種規(guī)格的集成電路測(cè)試系統(tǒng),老煉箱50余臺(tái)、各類環(huán)境箱體20臺(tái)套、機(jī)械性能與可靠性檢測(cè)設(shè)備30臺(tái)套、半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)、模擬器件測(cè)試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、 PIND顆粒碰撞檢測(cè)設(shè)備等。
3. 依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格,準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果,準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理,并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 軍用級(jí)檢測(cè)體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測(cè)設(shè)備, 保證測(cè)試流程和測(cè)試精度,第三方公正檢測(cè)機(jī)構(gòu)。
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